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专利名称：测定装置及测定方法专利类型：发明专利发明人：三崎裕司
申请号：CN201310049287.2申请日：20130207公开号：CN103248438A公开日：20130814
摘要：本发明提供一种能够实现测定时间缩短化的测定装置及测定方法。本发明的测定装置（10），其具备：读入部（21），其读入多个时间段的数据；设定部（12），其设定每个时间段的测定项目；附加时间表（23），按每个测定项目存储预先设定的附加时间；测定期间设定部（22），其通过在分配于时间段的时间的前后附加附加时间来设定用于测定时间段的数据的测定期间；及测定部（30），在测定期间测定时间段的数据的特性。
申请人：安立股份有限公司
地址：日本神奈川县
国籍：JP
代理机构：北京市柳沈律师事务所
代理人：张银英
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